Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Matsuda J.S., Koyama S., Nakaoka K.
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, modeling, numerical analysis, fabrication
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Noji H.(noji@cc.miyakonojo-nct.ac.jp), Ooyama S., Nakajima K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, cables, ac losses, test results, numerical analysis, power equipment
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Goto T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Honjo T., Yajima A., Kaneko A.(akaneko@istec.or.jp), Matsuda J.S., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, resistivity, fabrication
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Noji H.(noji@cc.miyakonojo-nct.ac.jp), Ooyama S., Nakajima K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, cables, ac losses, numerical analysis, power equipment
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, ac losses, numerical analysis, cables single phase, power equipment, magnetic properties
Ключевые слова: HTS, Bi2212, tapes, power transmission lines, ac losses, numerical analysis, cables single phase, power equipment, magnetic properties
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Honjo T.(honjo@istec.or.jp), Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Shibata J., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp)
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp)
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.